电流拥挤效应对GaN基发光二极管可靠性的影响.rar
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本资料“电流拥挤效应对GaN基发光二极管可靠性的影响”由建虎网会员“心碎了”上传，资料大小：4.13 MB，资料格式：.rar，详情请下载参考。TAG标签：电流,可靠性,拥挤,效应,影响,GaN,Voltaic jam effect answers the influence of dependability of diode of GaN radical glow
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