用C-V法同时测量半导体中深中心和浅杂质的浓度分布.rar

本资料“用C-V法同时测量半导体中深中心和浅杂质的浓度分布”由建虎网会员“像风一样”上传，资料大小：1.23 MB，资料格式：.rar，详情请下载参考。
TAG标签：杂质,浓度,半导体,测量,分布,中心,
The chroma of deep center and simple foreign matter in measuring semiconductor at the same time with C-V law distributings

前往下载